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Quarz Endkappen Endlösung zur Verbesserung der Leistung und Zuverlässigkeit
Vertrauenswürdige Ergebnisse von führenden Laboren weltweit mit piezoelektrischen Wafer-TLD für Strahlendosimetrie
Stoichiometrische LiNbO3 Präzisionsleistung für Optoelektronik und Technologien mit unvergleichlicher Stabilität und Zuverlässigkeit
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Piezoelektrisches LiNbO3 Substrat 128Y schnitt mit Orientierungs-flacher Kerbe
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BEI geschnittenem einzelnem Crystal Quartz Blank 70MHz zur Frequenz-Steuerung
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Primärflächige 16±2 mm geschmolzenen Siliciumglassubstraten Wafer mit Inspektionsbericht 5 Arc Sec
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F-HUV Quarz-Borosilikatglaswafer 10 mm für MEMS und Halbleiter
3.5um Fd Silica Wafer mit Corning 7980 FHUV OHARA1300 Schott BF33 Zerodur
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